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  • 上海洪富儀器儀表有限公司


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    文章詳情

    探傷儀選型

    日期:2025-08-07 15:56
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    摘要:
    超聲波選型大全
     
    JB/T4730.3—2005
    代替JB 4730—1994
     
     
    范 圍
     
     JB/T 4730的本部分規(guī)定了承壓設備采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀檢測工件缺陷的超聲檢測方法和質量分級要求。
     本部分適用于金屬材料制承壓設備用原材料、零部件和焊接接頭的超聲檢測,也適用于金屬材料制在用承壓設備的超聲檢測。
     與承壓設備有關的支承件和結構件的超聲檢測,也可參照本部分使用。
     
     
    2  規(guī)范性引用文件
     
    下列文件中的條款通過JB/T 4730的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的*新版本。凡是不注日期的引用文件,其*新版本適用于本部分。
     JB/T 4730.1     承壓設備無損檢測第1部分:通用要求
     JB/T 7913—1995   超聲波檢測用鋼制對比試塊的制作與校驗方法
     JB/T 9214—1999   A型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng)工作性能測試方法
     JB/T 10061—1999   A型脈沖反射式超聲波探傷儀通用技術條件
     JB/T 10062—1999  超聲探傷用探頭性能測試方法
     JB/T 10063—1999  超聲探傷用1號標準試塊技術條件
     
     
    3  一般要求
     
    3.1   超聲檢測人員
          超聲檢測人員的一般要求應符合JBFF 4730.1的有關規(guī)定。
    3.2   檢測設備
    3.2.1  超聲檢測設備均應具有產(chǎn)品質量合格證或合格的證明文件。
    3.2.2 探傷儀、探頭和系統(tǒng)性能
    3.2.2.1探傷儀
       采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀,其工作頻率范圍為0.5MHz~10MHz,儀器至少在熒光屏滿刻度的80%范圍內呈線性顯示。探傷儀應具有80dB以上的連續(xù)可調衰減器,步進級每檔不大于2dB,其精度為任意相鄰12dB的誤差在±1dB以內,*大累計誤差不超過1dB。水平線性誤差不大于1%,垂直線性誤差不大于5%。其余指標應符合JB/T10061的規(guī)定。
    3.2.2.2  探頭
    3.2.2.2.1 晶片面積一般不應大于500mm2,且任一邊長原則上不大于25mm。
    3.2.2.2.2  單斜探頭聲束軸線水平偏離角不應大于2°,主聲束垂直方向不應有明顯的雙峰。
    3.2.2.3    超聲探傷儀和探頭的系統(tǒng)性能
    3.2.2.3.1 在達到所探工件的*大檢測聲程時,其有效靈敏度余量應不小于10dB。
    3.2.2.3.2 儀器和探頭的組合頻率與公稱頻率誤差不得大于±10%。
    3.2.2.3.3 儀器和直探頭組合的始脈沖寬度(在基準靈敏度下):對于頻率為5MHz的探頭,寬度不大于10mm;對于頻率為2.5MHz的探頭,寬度不大于15mm。
    3.2.2.3.4  直探頭的遠場分辨力應不小于30dB,斜探頭的遠場分辨力應不小于6dB。
    3.2.2.3.5  儀器和探頭的系統(tǒng)性能應按JB/T 9214和JB/T10062的規(guī)定進行測試。
    3.3 超聲檢測一般方法
    3.3.1 檢測準備
    3.3.1.1 承壓設備的制造、安裝和在用檢驗中,超聲檢測的檢測時機及抽檢率的選擇等應按相關法規(guī)、標準及有關技術文件的規(guī)定。
    3.3.1.2 所確定檢測面應保證工件被檢部分均能得到充分檢查。
    3.3.1.3  焊縫的表面質量應經(jīng)外觀檢測合格。所有影響超聲檢測的銹蝕、飛濺和污物等都應予以**,其表面粗糙度應符合檢測要求。表面的不規(guī)則狀態(tài)不得影響檢測結果的正確性和完整性,否則應做適當?shù)奶幚怼?/span>
    3.3.2 掃查覆蓋率
        為確保檢測時超聲聲束能掃查到工件的整個被檢區(qū)域,探頭的每次掃查覆蓋率應大于探頭直徑的15%。
    3.3.3 探頭的移動速度
          探頭的掃查速度不應超過150mm/s。當采用自動報警裝置掃查時,不受此限。
    3.3.4  掃查靈敏度
          掃查靈敏度通常不得低于基準靈敏度。
    3.3.5 耦合劑
          應采用透聲性好,且不損傷檢測表面的耦合劑,如機油、漿糊、甘油和水等。
    3.3.6 靈敏度補償
        a) 耦合補償。在檢測和缺陷定量時,應對由表面粗糙度引起的耦合損失進行補償。
        b) 衰減補償。在檢測和缺陷定量時,應對材質衰減引起的檢測靈敏度下降和缺陷定量誤差進行補償。
        c) 曲面補償。對探測面是曲面的工件,應采用曲率半徑與工件相同或相近的試塊,通過對比試驗進行曲率補償。
    3.4 系統(tǒng)校準和復核
    3.4.1 一般要求
        系統(tǒng)校準應在標準試塊上進行,校準中應使探頭主聲束垂直對準反射體的反射面,以獲得穩(wěn)定和*大的反射信號。
    3.4.2 儀器校準
        每隔3個月至少對儀器的水平線性和垂直線性進行一次測定,測定方法按JB/T10061的規(guī)定。
    3.4.3 新購探頭測定
        新購探頭應有探頭性能參數(shù)說明書,新探頭使用前應進行前沿距離、K值、主聲束偏離、靈敏度余量和分辨力等主要參數(shù)的測定。測定應按JB/T10062的有關規(guī)定進行,并滿足其要求。
    3.4.4  檢測前儀器和探頭系統(tǒng)測定
    3.4.4.1 使用儀器—斜探頭系統(tǒng),檢測前應測定前沿距離、K值和主聲束偏離,調節(jié)或復核掃描量程和掃查靈敏度。
    3.4.4.2 使用儀器一直探頭系統(tǒng),檢測前應測定始脈沖寬度、靈敏度余量和分辨力,調節(jié)或復核掃描量程和掃查靈敏度。
    3.4.5 檢測過程中儀器和探頭系統(tǒng)的復核
     a) 校準后的探頭、耦合劑和儀器調節(jié)旋鈕發(fā)生改變時;
     b) 檢測人員懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化時;
     c) 連續(xù)工作4h以上時;
     d) 工作結束時。
    3.4.6 檢測結束前儀器和探頭系統(tǒng)的復核
     a) 每次檢測結束前,應對掃描量程進行復核。如果任意一點在掃描線上的偏移超過掃描線讀數(shù)的10%,則掃描量程應重新調整,并對上一次復核以來所有的檢測部位進行復檢。
     b) 每次檢測結束前,應對掃查靈敏度進行復核。一般對距離一波幅曲線的校核不應少于3點。如曲線上任何一點幅度下降2dB,則應對上一次復核以來所有的檢測部位進行復檢;如幅度上升2dB,則應對所有的記錄信號進行重新評定。
    3.4.7 校準、復核的有關注意事項
       校準、復核和對儀器進行線性檢測時,任何影響儀器線性的控制器(如抑制或濾波開關等)都應放在“關”的位置或處于*低水平上。
    3.5  試塊
    3.5.1 標準試塊
    3.5.1.1 標準試塊是指本部分規(guī)定的用于儀器探頭系統(tǒng)性能校準和檢測校準的試塊,本部分采用的標準試塊有:
     a) 鋼板用標準試塊:CBⅠ、CBⅡ;
     b) 鍛件用標準試塊:CSⅠ、CSⅡ、CSⅢ;
     c) 焊接接頭用標準試塊:CSK-ⅠA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA、CSK-ⅣA。
    3.5.1.2  標準試塊應采用與被檢工件聲學性能相同或近似的材料制成,該材料用直探頭檢測時,不得有大于或等于φ2mm平底孔當量直徑的缺陷。
    3.5.1.3  標準試塊尺寸精度應符合本部分的要求,并應經(jīng)計量部門檢定合格。
    3.5.1.4 標準試塊的其他制造要求應符合JB/T 10063和JB/T 7913的規(guī)定。
    3.5.2  對比試塊
    3.5.2.1 對比試塊是指用于檢測校準的試塊。
    3.5.2.2 對比試塊的外形尺寸應能代表被檢工件的特征,試塊厚度應與被檢工件的厚度相對應。如果涉及到兩種或兩種以上不同厚度部件焊接接頭的檢測,試塊的厚度應由其*大厚度來確定。
    3.5.2.3 對比試塊反射體的形狀、尺寸和數(shù)量應符合本部分的規(guī)定。
     
     
    承壓設備用原材料、零部件的超聲檢測和質量分級
     
    4.1  承壓設備用鋼板超聲檢測和質量分級
    4.1.1 范圍
     本條適用于板厚為6mm~250mm的碳素鋼、低合金鋼制承壓設備用板材的超聲檢測和質量分級。
     奧氏體鋼板材、鎳及鎳合金板材以及雙相不銹鋼板材的超聲檢測也可參照本章執(zhí)行。
    4.1.2 探頭選用
    4.1.2.1 探頭選用應按表1的規(guī)定進行。
     
    表1   承壓設備用板材超聲檢測控闊頭選用
    板厚,mm
    采用探頭
    公稱頻率,MHz
    探頭晶片尺寸
    6~20
    雙晶直探頭
    5
    晶片面積不小于150mm2
    >20~40
    單晶直探頭
    5
    φ14mm~φ20mm
    >40~250
    單晶直探頭
    2.5
    φ20mm~φ25mm
     
    4.1.2.2  雙晶直探頭性能應符合附錄A(規(guī)范性附錄)的要求。
    4.1.3 標準試塊
    4.1.3.1
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